В работе представлена конструкция и результаты исследований пьезосканера с оптическими датчиками ли-нейных перемещений (оптическими энкодерами) для сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) с боль-шим диапазоном сканирования. Обсуждаются алгоритмы и приводятся результаты калибровки и линеариза-ции пьезосканера. Демонстрируется уменьшение влияния термодрейфа на СЗМ-изображение. Кл. сл.: сканирующая зондовая микроскопия, оптические датчики линейных перемещений, микросканер, пьезокерамический элемент, линейность перемещения

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург (Голубок А.О., Горбенко О.М., Дво-рецких A.B., Сапожников И.Д., Фельштын М.Л.) Санкт-Петербургский государственный универси-тет информационных технологий, механики и оп-тики (Голубок А.О.) ЗАО "Нанотехнологии-МДТ", Москва (Котов В.В.)

Статья посвящена основным аспектам эволюции нового класса электростатических энергоанализаторов электронных и ионных потоков, названных авторами "квазиконическими". Рассматривается генезис основ-ных физических и математических идей, строится точная математическая теория расчета таких систем, опи-сываются реальные конструкции, приводятся результаты экспериментов и обсуждаются перспективы разви-тия данного направления. Кл. сл.: электростатический энергоанализатор заряженных частиц, квазиконический энергоанализатор, потенциал электростатического поля, разностное поле, уравнение Лапласа, фокусировка 2-го порядка, дисперсия по энергии

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург

Статья посвящена дальнейшему прогрессу в области теоретического синтеза и практического воплощения электростатических энергоанализаторов с рекордными параметрами по светосиле и разрешению. В основу поиска оптимальных решений положена компьютерная стратегия, использующая самые современные паке-ты программ, в частности SIMION. В данном случае речь идет о глубокой плавной деформации квазикони-ческих систем с целью улучшения технологичности конструкции и повышения энергоанализирующих характеристик. Кл. сл.: светосильный электростатический энергоанализатор заряженных частиц, сфероидальный энергоана-лизатор, компьютерное моделирование

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург (Холин Н.А., Шорина Т.А.) Исследовательская лаборатория Shimadzu,Манчестер, Великобритания (Кубрик Д.)

Рассмотрены вопросы, относящиеся к процедуре оптической юстировки фазового компенсатора эллипсо-метра. Изучены особенности такой юстировки. Получены уравнения, позволяющие существенно упростить процесс определения всех трех комплексных параметров компенсатора. Предложена процедура оптической калибровки неоднородного компенсатора. Кл. сл.: эллипсометрия, межзонный разброс, поляризационные углы

Институт прикладной физики НАН Украины, г. Сумы (Семененко А.И.) Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург (Семененко И.А.)

Обсуждаются новые технические решения при создании детектора для приборов капиллярного электрофо-реза. Предложены методики измерения вкладов основных источников шума, введено понятие коэффициента шума фотоприемника и приведены рекомендации для оптимизации детектора. Кл. сл.: электрохроматограф, капиллярный электрофорез, спектрофотометрический детектор, источники шума

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург (Белов Ю.В., Курочкин В.Е.) Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург (Суханов В.Л.)

Получены изображения поверхности пористых стекол методами конфокальной лазерной сканирующей мик-роскопии и оптической микроскопии ближнего поля. Изображения свидетельствуют о наличии структур на поверхности с разными оптическими свойствами. Приведены результаты обработки изображений методами медианной фильтрации и Фурье-преобразования. Получены оценки шероховатости поверхности стекол. Об-суждаются вопросы оценки качества изображений. Кл. сл.: пористое стекло, конфокальная лазерная сканирующая микроскопия, сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия, поверхностные структуры, обработка изображений

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург (Евстрапов А.А., Есикова Н.А.) Институт химии силикатов им. И.В. Гребенщикова РАН, Санкт-Петербург (Кухтевич И.В., Антропо-ва Т.В.) Санкт-Петербургский государственный универси-тет информационных технологий, механики и оп-тики (Технический университет ИТМО) (Клоков М.В., Кухтевич И.В.)

Предложен переменно-токовый вариант инверсионно-вольтамперометрического определения ионов тяже-лых металлов в водных растворах, не требующий предварительной градуировки прибора по стандартным образцам. Рассчитаны пределы обнаружения ионов кадмия (II) и ртути (II) в постоянно-токовом и перемен-но-токовом режимах измерения на ртутно-графитовом (РГПЭ) и золото-графитовом (ЗГПЭ) пленочных электродах соответственно. Кл. сл.: инверсионная вольтамперометрия, концентрационная градуировка, постоянно-токовая вольтамперо-метрия, переменно-токовая вольтамперометрия

Санкт-Петербургский государственный университет, Химический факультет

Предложен новый метод построения чувствительных элементов датчиков на поверхностных акустических волнах на основе дисперсионных линий задержки. Приведены результаты моделирования применительно к мембранному датчику давления. Определен субоптимальный вид закона изменения фазы, обеспечивающий высокую чувствительность к деформации звукопровода. Предлагаемый подход обеспечивает высокую по-мехозащищенность и точность бесконтактных измерений. Кл. сл.: датчики, поверхностные акустические волны

ОАО НПП "Радар ммс", г. Санкт-Петербург

В работе рассматривается проблема определения населенности уровней и групп уровней в квантовых ячей-ках. Эта проблема является ключевой для создания квантовых вычислительных ячеек и определения их фи-зико-информационных свойств. Предложенный в работе метод позволяет определить населенность уровней и групп уровней независимо от формы квантовой ячейки в условиях сильно шумящей среды. Кл. сл.: населенность уровней, квантовые ячейки, инварианты, статистика

Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова РАН (Ежов В.И.) Санкт-Петербургское отделение Института химической физики им. Н.Н. Семенова (Трифанов В.Н., Нестеров М.М.)

В работе доказана истинность выражения для перекрестной составляющей радиационного давления в слу-чае плоской бегущей или близкой к ней волне в случае произвольных включений. Впервые получены точ-ные выражения для радиационного давления на сложных включениях в плоской бегущей волне в идеальной жидкости. В частности, доказано, что перекрестная составляющая радиационного давления с точностью до постоянного множителя равна сумме мнимых составляющих коэффициентов при зональных гармониках в разложении амплитуды рассеяния включения по сферическим функциям. Приведен расчет для классической частицы малых волновых размеров. Кл. сл.: радиационное давление, плоская бегущая волна, идеальная жидкость, амплитуда рассеяния, поле рассеяния

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург

В работе показано, что выражение для амплитуды рассеяния включения в поле, состоящем из совокупности плоских волн, удовлетворяет однородному уравнению Гельмгольца вне источника этих волн по переменным координатам включения. Это позволило получить простые асимптотические ряды по обратным степеням расстояния между источником волн и включением для вычисления амплитуды рассеяния. Приведены при-меры применения этих рядов. Кл. сл.: уравнение Гельмгольца, амплитуда рассеяния, асимптотический метод

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург

Анализируется задача разделения смеси сигналов (с восстановлением вида ее компонент) при отсутствии информации о пропорциях и типе смешивания. Доступная измерительная информация поступает в инфор-мационно-измерительную систему с ее сенсоров. Рассмотрены методы и структура алгоритмов, необходи-мых для разделения смеси сигналов. Алгоритмы основаны на декорреляции многомерного измерительного сигнала, разложении ковариационной матрицы по собственным значениям и на использовании нейронной сети. Кл. сл.: сигналы, смесь, разделение, методы, алгоритмы, декорреляция, нейронная сеть

Санкт-Петербург

•  Лаборатория на базе прибора АНК-4 предназначена для проведения широкого спектра ПЦР-исследований в стационарных и полевых условиях.

•  Экспресс-анализатор АНК-4, прибор нового поколения семейства АНК, — количественных анализаторов нуклеиновых кислот методом ПЦР в реальном времени, серийно выпускаемых Институтом аналитического приборостроения РАН с 2004 года.

•  Возможности прибора АНК-4 обеспечивают проведение анализа методом ПЦР-РВ за 30 минут, при этом время полного цикла исследования от забора пробы до получения результатов не превышает двух часов.

•  Для приборов АНК разработана линейка вспомогательного лабораторного оборудования, реактивы и тест-системы для ПЦР-РВ.

Возможности

•  Минимальное время исследования — анализ ДНК за 30 минут.

•  Возможность работы в полевых условиях.

•  Количественное определение ДНК в пробе от единичных до 10 9 копий.

•  Количественный анализ до 4 различных ДНК в одной пробирке одновременно.

•  Высокая чувствительность, позволяющая минимизировать количества расходуемых реагентов.

•  Удобное программное обеспечение, современные алгоритмы обработки данных.

•  Возможность работы с диагностическими тест-системами отечественных и зарубежных производителей.

•  Снижение риска контаминации.

Санкт-Петербург