© Б. Г. Беленький |
ОПРЕДЕЛЕНИЕ МОЛЕКУЛЯРНОЙ МАССЫ, РАЗМЕРА
И РАЗВЕТВЛЕННОСТИ МАКРОМОЛЕКУЛ С ПОМОЩЬЮ ДВУХДЕТЕКТОРНОЙ ГПХ. ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ГПХ
С РЕФРАКТОМЕТРИЧЕСКИМ ДЕТЕКТОРОМ
И МНОГОУГЛОВЫМ ЛАЗЕРНЫМ НЕФЕЛОМЕТРОМ (MALLS)
|
Важнейшим видом анализа полидисперсности полимеров является гель-проникающая хроматография (ГПХ) как метод определения их молекулярно-массового распределения (ММР). Рассмотрены виды ГПХ-анализа и их применение в исследовании полимеров. |
Полный текст >> |
Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург
Материал поступил в редакцию 22.11.2000.
|
Стр. 3—14 |
|
© Д. В. Соколов |
НАНООКСИДИРОВАНИЕ И НАНОТРАВЛЕНИЕ n-In0.53Ga0.43As
С ПОМОЩЬЮ АТОМНО-СИЛОВОГО МИКРОСКОПА
|
Детально исследована применимость нанооксидирования с помощью атомно-силового
микроскопа (АСМ) к слою InGaAs на InP с согласованным параметром решетки. На поверхности n-InGaAs сформированы выступы оксида методом АСМ-нанооксидирования. В результате сформированы равномерные оксидные линии высотой более 6 нм и шириной менее 50 нм. Наноканавки на поверхности n-InGaAs могут быть сформированы травлением в растворе HF. Показано влияние полуконтактного режима на улучшение геометрических параметров оксидных точек, а также оксидная природа образования линий и точек.
|
Полный текст >> |
Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург
Материал поступил в редакцию 29.12.2000.
|
Стр. 15—21 |
|
© А. В. Голубев, В. В. Акулиничев |
КРЕМНИЕВЫЕ P–I–N ФОТОДИОДЫ ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИАГНОСТИКИ КОРОТКОЖИВУЩЕЙ ПЛАЗМЫ |
В работе дано краткое описание методики исследования временных и спектральных
характеристик детекторов мягкого рентгеновского излучения в интервале энергий фотонов от нескольких десятков до тысячи
электронвольт. Представлены измеренные характеристики (время нарастания сигнала, временнóе разрешение, абсолютная
спектральная чувствительность) и определенные по результатам измерений параметры (толщины контактного, "мертвого" и
чувствительного слоев) некоторых типов быстрых кремниевых p—i—n фотодиодов различных производителей (Siemens, Hamamatsu, Motorola,
НИИИТ/Москва), которые могут быть использованы в аппаратуре для рентгеновской диагностики плазмы с временным разрешением около
1 ns и лучше. |
Полный текст >> |
Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург, Россия
Материал поступил в редакцию 31.10.2000.
|
Стр. 22—27 |
|
© Л. Н. Галль, А. Г. Кузьмин |
МАСС-СПЕКТРОМЕТР С ТЛЕЮЩИМ РАЗРЯДОМ МСД-650ТлР —
НОВОЕ РАЗВИТИЕ МАСС-СПЕКТРОМЕТРОВ МСД-650
|
Для базовой модели масс-спектрометра с двойной фокусировкой МСД-650 разработан и изготовлен источник ионов с тлеющим разрядом, позволяющий проводить на этом приборе элементный анализ твердых образцов. Рассмотрены возможности усовершенствования базовой модели масс-спектрометра МСД-650 с целью оптимизации параметров нового элементного масс-спектрометра. Представлены результаты предварительных испытаний опытного образца масс-спектрометра с тлеющим разрядом МСД-650ТлР и приведены масс-спектры элементного анализа твердых проб. |
Полный текст >> |
Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург
Материал поступил в редакцию 24.01.2001
|
Стр. 28—35 |
|
© В. В. Наумов, А. В. Белозеров, О. А. Гребенщиков |
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ОЦЕНКА ДИНАМИКИ ДРЕЙФА ПИКОВ МАСС-СПЕКТРОМЕТРА И ОПРЕДЕЛЕНИЕ МАССОВЫХ ЧИСЕЛ |
Приведены результаты экспериментальных исследований динамики дрейфа пиков и методика автоматического определения массовых чисел на базе масс-спектрометрической системы, включающей серийный
масс-спектрометр МХ-7304А, ПЭВМ IBM PC, аналого-цифровой и цифро-аналоговый преобразователи.
Погрешность определения массовых чисел по разработанной методике не превышает 0.01 %.
|
Полный текст >> |
Институт электроники НАН Беларуси, Минск
Материал поступил в редакцию 13.12.2000.
|
Стр. 36—39 |
|
© Е. А. Воронина, В. Н. Курятов |
РАДИАЦИОННАЯ ОПТИЧЕСКАЯ УСТОЙЧИВОСТЬ (РОУ)
КВАРЦЕВОГО СТЕКЛА
|
Экспериментально исследовано нарушение радиационной оптической устойчивости (РОУ) кварцевого стекла, проявляющееся в виде люминесценции на длине волны 0.65 мкм. Дано объяснение причин и механизма возникновения радиационных центров. Экспериментально найден технологический режим восстановления оптических свойств утратившего РОУ кварцевого стекла. |
Полный текст >> |
Федеральное государственное унитарное предприятие НИИ "Полюс", Москва
Материал поступил в редакцию 05.12.2000.
|
Стр. 40—46 |
|
© Б. Г. Беленький, Ю. В. Белов, А. В. Савушкин, В. Л. Суханов |
СПЕКТРОФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ ДЕТЕКТОР
ДЛЯ КАПИЛЛЯРНОГО ЭЛЕКТРОФОРЕЗА И КАПИЛЛЯРНОЙ ЖИДКОСТНОЙ ХРОМАТОГРАФИИ.
ВОЗМОЖНОСТЬ АБСОЛЮТНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ ПЛОТНОСТИ РАСТВОРА В КРУГЛОМ КАПИЛЛЯРЕ
|
Обсуждаются оптимальные технические решения при создании СФ-детектора. Предложена методика измерения абсолютных значений оптической плотности при круглых капиллярах малого диаметра. Для этого введены понятия коэффициентов заполнения светового пучка пробой и приведены формулы для корректировки экспериментальных результатов. Приведены оценочный расчет и рекомендации для определения этих коэффициентов по результатам экспериментов при различных вариантах настройки оптической системы. |
Полный текст >> |
Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург
Материал поступил в редакцию 24.01.2001
|
Стр. 47—51 |
|
© Э. В. Кувалдин |
ВЫБОР И ОПТИМИЗАЦИЯ ФУНКЦИОНАЛЬНОЙ СХЕМЫ СПЕКТРОФОТОМЕТРА КОЭФФИЦИЕНТОВ ДИФФУЗНОГО ОТРАЖЕНИЯ
(ЧАСТЬ 1)
|
Описываемый метод оптимизации состоит из двух частей. Первая часть посвящена выбору оптической схемы с минимальными потерями, вторая содержит методы оптимизации приемного тракта, регистрирующей электрической схемы и минимизации погрешности измерений. Обсуждаются основные трудности и возможности их преодоления. |
Полный текст >> |
ВНЦ ГОИ им. С.И. Вавилова, Санкт-Петербург
Материал поступил в редакцию 26.01.2001.
|
Стр. 52—55 |
|
© Ю. И. Неронов, Нассар Муханнад, В. К. Иванов |
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ИЗБИРАТЕЛЬНОГО ЧАСТОТНОГО ПОДАВЛЕНИЯ ЯМР-СИГНАЛОВ
В МАГНИТНО-РЕЗОНАНСНОЙ ТОМОГРАФИИ ДЛЯ ВИЗУАЛИЗАЦИИ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ МАГНИТНОГО ПОЛЯ
|
Рассматриваются результаты исследования режима получения магнитно-резонансных томограмм с избирательным частотным подавлением. Показано, что данный метод применим для визуализации распределения магнитного поля и удобен как для регистрации искажений поля из-за краевых изменений диамагнетизма среды, так и для определения статических неоднородностей магнитов различного назначения. |
Полный текст >> |
Санкт-Петербургский Государственный институт точной механики и оптики (Технический Университет)
Материал поступил в редакцию 23.11.2000
|
Стр. 56—59 |
|
© В. В. Наумов, А. В. Белозеров, О. А. Гребенщиков |
СИСТЕМА АВТОМАТИЧЕСКОГО ПОИСКА
И СЛЕЖЕНИЯ ЗА ГЛОБАЛЬНЫМ МАКСИМУМОМ ПИКА МАСС-СПЕКТРА
|
Описаны алгоритм и устройство цифрового экстремального регулятора, обеспечивающего игнорирование локальных экстремумов, автоматический поиск и слежение за глобальным максимумом пика масс-спектра с точностью не хуже 0.0012 % при быстродействии 50 кГц, повышенных скоростях развертки масс до 200 а.е.м./с и устойчивости регулирования. |
Полный текст >> |
Институт электроники НАН Беларуси, Минск
Материал поступил в редакцию 13.12.2000
|
Стр. 60—64 |
|
© А. А. Алексеев, В. А. Аладинский, В. К. Железняк, В. Ф. Комарович, С. В. Дворников |
ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДОВ ЧАСТОТНО-ВРЕМЕННÓЙ ОБРАБОТКИ АКУСТИЧЕСКИХ СИГНАЛОВ ДЛЯ АНАЛИЗА ПАРАМЕТРОВ РЕВЕРБЕРАЦИИ |
Предлагаются методы, расширяющие возможности существующих автоматизированных
систем контроля параметров реверберации акустических сигналов, которые базируются на теории совместных частотно-временных
представлений сигналов и помех. Приводятся основные аналитические соотношения для построения быстродействующих алгоритмов
вычисления значений функций частотно-временных распределений энергии сигналов. Обсуждаются результаты теоретических и
экспериментальных исследований возможностей предлагаемых методов. Демонстрируется существенное увеличение (примерно на порядок)
скорости цифровой обработки акустических сигналов по сравнению с достаточно широко известными алгоритмами
частотно-временнóго анализа на основе распределений "конусного" и "экспоненциального" типов. |
Полный текст >> |
Военный университет связи, Санкт-Петербург
(Алексеев А.А., Аладинский В.А., Комарович В.Ф., Дворников С.В.)
Федеральное государственное унитарное предприятие "ИНФОРМАКУСТИКА", Санкт-Петербург (Железняк В.К.)
Материал поступил в редакцию 10.11.2000.
|
Стр. 65—76 |
|
© В. В. Вашкелис |
ПРИНЦИПЫ ПОСТРОЕНИЯ ВЫСОКОРАЗРЕШАЮЩИХ СИСТЕМ ПОФРАГМЕНТНОГО СКАНИРОВАНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ
|
Оцифровка изображений является важным этапом всех задач обработки изображений.
Однако при регистрации изображений с высоким разрешением обычно возникает ряд проблем. Большинство из них может быть решено
путем создания систем на основе алгоритма многокадрового сканирования. Здесь описываются основные принципы этого метода и
представляется одно из разработанных устройств. |
Полный текст >> |
НПП "ЭЛТЕСТ", Санкт-Петербург
Материал поступил в редакцию 31.11.2000.
|
Стр. 77—80 |
|
© Д. Г. Грязин |
МОДЕЛИРОВАНИЕ КАЧКИ ВОЛНОМЕРНОГО БУЯ |
Приводятся результаты теоретических и экспериментальных исследований качки волномерного буя. Предложена нелинейная математическая модель его качки. Для выполнения расчетов использованы экспериментально полученные гидродинамические коэффициенты. Результаты расчета сопоставлены с характеристиками, полученными экспериментально при испытаниях буя в опытовом бассейне. |
Полный текст >> |
Санкт–Петербургский Государственный институт точной механики и оптики (Технический Университет)
Материал поступил в редакцию 21.11.2000.
|
Стр. 81—88 |
|
© Д. Г. Грязин |
ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ КОНСТРУКТИВНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ БУЕВ НА ДЕМПФИРОВАНИЕ ИХ ВЕРТИКАЛЬНОЙ КАЧКИ |
Обсуждаются вопросы особенностей влияния дисковых демпферов и конструктивных размеров буев с малой площадью сечения по ватерлинии на их вертикальную качку. Производится сравнение их характеристик с характеристиками буя, имеющего форму прямого кругового цилиндра. На основании результатов выполненных исследований сделаны рекомендации по применению указанных конструктивных элементов при проектировании океанографических буев. |
Полный текст >> |
Санкт-Петербургский Государственный институт точной механики и оптики (Технический Университет)
Материал поступил в редакцию 21.11.2000.
|
Стр. 89—93 |
|
|
ПРОФЕССОРУ В. Г. БЕРЕЗКИНУ — 70 ЛЕТ |
Редакция журнала "Научное приборостроение" сердечно поздравляет юбиляра и желает ему новых творческих достижений, здоровья и благополучия. В материал, посвященный замечательному юбилею, включены ответы Виктора Григорьевича на вопросы, заданные редакцией. |
Полный текст >> |
Материал поступил в редакцию 16.01.2001. |
Стр. 94—95 |
|