logo
blue band back
   НОМЕРА ЖУРНАЛА "НП"

"Научное приборостроение" 2001, т. 11, № 1. ISSN 0868–5886

РЕФЕРАТЫ

© Б. Г. Беленький

ОПРЕДЕЛЕНИЕ МОЛЕКУЛЯРНОЙ МАССЫ, РАЗМЕРА И РАЗВЕТВЛЕННОСТИ МАКРОМОЛЕКУЛ С ПОМОЩЬЮ ДВУХДЕТЕКТОРНОЙ ГПХ. ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ГПХ С РЕФРАКТОМЕТРИЧЕСКИМ ДЕТЕКТОРОМ И МНОГОУГЛОВЫМ ЛАЗЕРНЫМ НЕФЕЛОМЕТРОМ (MALLS)

Важнейшим видом анализа полидисперсности полимеров является гель-проникающая хроматография (ГПХ) как метод определения их молекулярно-массового распределения (ММР). Рассмотрены виды ГПХ-анализа и их применение в исследовании полимеров.

Полный текст >>

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург

 
Материал поступил в редакцию 22.11.2000.

Стр. 3—14

 

© Д. В. Соколов

НАНООКСИДИРОВАНИЕ И НАНОТРАВЛЕНИЕ n-In0.53Ga0.43As С ПОМОЩЬЮ АТОМНО-СИЛОВОГО МИКРОСКОПА

Детально исследована применимость нанооксидирования с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ) к слою InGaAs на InP с согласованным параметром решетки. На поверхности n-InGaAs сформированы выступы оксида методом АСМ-нанооксидирования. В результате сформированы равномерные оксидные линии высотой более 6 нм и шириной менее 50 нм. Наноканавки на поверхности n-InGaAs могут быть сформированы травлением в растворе HF. Показано влияние полуконтактного режима на улучшение геометрических параметров оксидных точек, а также оксидная природа образования линий и точек.

Полный текст >>

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург

 
Материал поступил в редакцию 29.12.2000.

Стр. 15—21

 

© А. В. Голубев, В. В. Акулиничев

КРЕМНИЕВЫЕ P–I–N ФОТОДИОДЫ ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИАГНОСТИКИ КОРОТКОЖИВУЩЕЙ ПЛАЗМЫ

В работе дано краткое описание методики исследования временных и спектральных характеристик детекторов мягкого рентгеновского излучения в интервале энергий фотонов от нескольких десятков до тысячи электронвольт. Представлены измеренные характеристики (время нарастания сигнала, временнóе разрешение, абсолютная спектральная чувствительность) и определенные по результатам измерений параметры (толщины контактного, "мертвого" и чувствительного слоев) некоторых типов быстрых кремниевых p—i—n фотодиодов различных производителей (Siemens, Hamamatsu, Motorola, НИИИТ/Москва), которые могут быть использованы в аппаратуре для рентгеновской диагностики плазмы с временным разрешением около 1 ns и лучше.

Полный текст >>

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург, Россия

 
Материал поступил в редакцию 31.10.2000.

Стр. 22—27

 

© Л. Н. Галль, А. Г. Кузьмин

МАСС-СПЕКТРОМЕТР С ТЛЕЮЩИМ РАЗРЯДОМ МСД-650ТлР — НОВОЕ РАЗВИТИЕ МАСС-СПЕКТРОМЕТРОВ МСД-650

Для базовой модели масс-спектрометра с двойной фокусировкой МСД-650 разработан и изготовлен источник ионов с тлеющим разрядом, позволяющий проводить на этом приборе элементный анализ твердых образцов. Рассмотрены возможности усовершенствования базовой модели масс-спектрометра МСД-650 с целью оптимизации параметров нового элементного масс-спектрометра. Представлены результаты предварительных испытаний опытного образца масс-спектрометра с тлеющим разрядом МСД-650ТлР и приведены масс-спектры элементного анализа твердых проб.

Полный текст >>

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург

 
Материал поступил в редакцию 24.01.2001

Стр. 28—35

 

© В. В. Наумов, А. В. Белозеров, О. А. Гребенщиков

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ОЦЕНКА ДИНАМИКИ ДРЕЙФА ПИКОВ МАСС-СПЕКТРОМЕТРА И ОПРЕДЕЛЕНИЕ МАССОВЫХ ЧИСЕЛ

Приведены результаты экспериментальных исследований динамики дрейфа пиков и методика автоматического определения массовых чисел на базе масс-спектрометрической системы, включающей серийный масс-спектрометр МХ-7304А, ПЭВМ IBM PC, аналого-цифровой и цифро-аналоговый преобразователи. Погрешность определения массовых чисел по разработанной методике не превышает 0.01 %.

Полный текст >>

Институт электроники НАН Беларуси, Минск

 
Материал поступил в редакцию 13.12.2000.

Стр. 36—39

 

© Е. А. Воронина, В. Н. Курятов

РАДИАЦИОННАЯ ОПТИЧЕСКАЯ УСТОЙЧИВОСТЬ (РОУ) КВАРЦЕВОГО СТЕКЛА

Экспериментально исследовано нарушение радиационной оптической устойчивости (РОУ) кварцевого стекла, проявляющееся в виде люминесценции на длине волны 0.65 мкм. Дано объяснение причин и механизма возникновения радиационных центров. Экспериментально найден технологический режим восстановления оптических свойств утратившего РОУ кварцевого стекла.

Полный текст >>

Федеральное государственное унитарное предприятие НИИ "Полюс", Москва

 
Материал поступил в редакцию 05.12.2000.

Стр. 40—46

 

© Б. Г. Беленький, Ю. В. Белов, А. В. Савушкин, В. Л. Суханов

СПЕКТРОФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ ДЕТЕКТОР ДЛЯ КАПИЛЛЯРНОГО ЭЛЕКТРОФОРЕЗА И КАПИЛЛЯРНОЙ ЖИДКОСТНОЙ ХРОМАТОГРАФИИ. ВОЗМОЖНОСТЬ АБСОЛЮТНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ ПЛОТНОСТИ РАСТВОРА В КРУГЛОМ КАПИЛЛЯРЕ

Обсуждаются оптимальные технические решения при создании СФ-детектора. Предложена методика измерения абсолютных значений оптической плотности при круглых капиллярах малого диаметра. Для этого введены понятия коэффициентов заполнения светового пучка пробой и приведены формулы для корректировки экспериментальных результатов. Приведены оценочный расчет и рекомендации для определения этих коэффициентов по результатам экспериментов при различных вариантах настройки оптической системы.

Полный текст >>

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург

 
Материал поступил в редакцию 24.01.2001

Стр. 47—51

 

© Э. В. Кувалдин

ВЫБОР И ОПТИМИЗАЦИЯ ФУНКЦИОНАЛЬНОЙ СХЕМЫ СПЕКТРОФОТОМЕТРА КОЭФФИЦИЕНТОВ ДИФФУЗНОГО ОТРАЖЕНИЯ (ЧАСТЬ 1)

Описываемый метод оптимизации состоит из двух частей. Первая часть посвящена выбору оптической схемы с минимальными потерями, вторая содержит методы оптимизации приемного тракта, регистрирующей электрической схемы и минимизации погрешности измерений. Обсуждаются основные трудности и возможности их преодоления.

Полный текст >>

ВНЦ ГОИ им. С.И. Вавилова, Санкт-Петербург

 
Материал поступил в редакцию 26.01.2001.

Стр. 52—55

 

© Ю. И. Неронов, Нассар Муханнад, В. К. Иванов

ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ИЗБИРАТЕЛЬНОГО ЧАСТОТНОГО ПОДАВЛЕНИЯ ЯМР-СИГНАЛОВ В МАГНИТНО-РЕЗОНАНСНОЙ ТОМОГРАФИИ ДЛЯ ВИЗУАЛИЗАЦИИ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ МАГНИТНОГО ПОЛЯ

Рассматриваются результаты исследования режима получения магнитно-резонансных томограмм с избирательным частотным подавлением. Показано, что данный метод применим для визуализации распределения магнитного поля и удобен как для регистрации искажений поля из-за краевых изменений диамагнетизма среды, так и для определения статических неоднородностей магнитов различного назначения.

Полный текст >>

Санкт-Петербургский Государственный институт точной механики и оптики
(Технический Университет)

 
Материал поступил в редакцию 23.11.2000

Стр. 56—59

 

© В. В. Наумов, А. В. Белозеров, О. А. Гребенщиков

СИСТЕМА АВТОМАТИЧЕСКОГО ПОИСКА И СЛЕЖЕНИЯ ЗА ГЛОБАЛЬНЫМ МАКСИМУМОМ ПИКА МАСС-СПЕКТРА

Описаны алгоритм и устройство цифрового экстремального регулятора, обеспечивающего игнорирование локальных экстремумов, автоматический поиск и слежение за глобальным максимумом пика масс-спектра с точностью не хуже 0.0012 % при быстродействии 50 кГц, повышенных скоростях развертки масс до 200 а.е.м./с и устойчивости регулирования.

Полный текст >>

Институт электроники НАН Беларуси, Минск

 
Материал поступил в редакцию 13.12.2000

Стр. 60—64

 

© А. А. Алексеев, В. А. Аладинский, В. К. Железняк, В. Ф. Комарович, С. В. Дворников

ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДОВ ЧАСТОТНО-ВРЕМЕННÓЙ ОБРАБОТКИ АКУСТИЧЕСКИХ СИГНАЛОВ ДЛЯ АНАЛИЗА ПАРАМЕТРОВ РЕВЕРБЕРАЦИИ

Предлагаются методы, расширяющие возможности существующих автоматизированных систем контроля параметров реверберации акустических сигналов, которые базируются на теории совместных частотно-временных представлений сигналов и помех. Приводятся основные аналитические соотношения для построения быстродействующих алгоритмов вычисления значений функций частотно-временных распределений энергии сигналов. Обсуждаются результаты теоретических и экспериментальных исследований возможностей предлагаемых методов. Демонстрируется существенное увеличение (примерно на порядок) скорости цифровой обработки акустических сигналов по сравнению с достаточно широко известными алгоритмами частотно-временнóго анализа на основе распределений "конусного" и "экспоненциального" типов.

Полный текст >>

Военный университет связи, Санкт-Петербург
(Алексеев А.А., Аладинский В.А., Комарович В.Ф., Дворников С.В.)
Федеральное государственное унитарное предприятие "ИНФОРМАКУСТИКА",
Санкт-Петербург (Железняк В.К.)

 
Материал поступил в редакцию 10.11.2000.

Стр. 65—76

 

© В. В. Вашкелис

ПРИНЦИПЫ ПОСТРОЕНИЯ ВЫСОКОРАЗРЕШАЮЩИХ СИСТЕМ ПОФРАГМЕНТНОГО СКАНИРОВАНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ

Оцифровка изображений является важным этапом всех задач обработки изображений. Однако при регистрации изображений с высоким разрешением обычно возникает ряд проблем. Большинство из них может быть решено путем создания систем на основе алгоритма многокадрового сканирования. Здесь описываются основные принципы этого метода и представляется одно из разработанных устройств.

Полный текст >>

НПП "ЭЛТЕСТ", Санкт-Петербург

 
Материал поступил в редакцию 31.11.2000.

Стр. 77—80

 

© Д. Г. Грязин

МОДЕЛИРОВАНИЕ КАЧКИ ВОЛНОМЕРНОГО БУЯ

Приводятся результаты теоретических и экспериментальных исследований качки волномерного буя. Предложена нелинейная математическая модель его качки. Для выполнения расчетов использованы экспериментально полученные гидродинамические коэффициенты. Результаты расчета сопоставлены с характеристиками, полученными экспериментально при испытаниях буя в опытовом бассейне.

Полный текст >>

Санкт–Петербургский Государственный институт точной механики и оптики
(Технический Университет)

 
Материал поступил в редакцию 21.11.2000.

Стр. 81—88

 

© Д. Г. Грязин

ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ КОНСТРУКТИВНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ БУЕВ НА ДЕМПФИРОВАНИЕ ИХ ВЕРТИКАЛЬНОЙ КАЧКИ

Обсуждаются вопросы особенностей влияния дисковых демпферов и конструктивных размеров буев с малой площадью сечения по ватерлинии на их вертикальную качку. Производится сравнение их характеристик с характеристиками буя, имеющего форму прямого кругового цилиндра. На основании результатов выполненных исследований сделаны рекомендации по применению указанных конструктивных элементов при проектировании океанографических буев.

Полный текст >>

Санкт-Петербургский Государственный институт точной механики и оптики
(Технический Университет)

 
Материал поступил в редакцию 21.11.2000.

Стр. 89—93

 

ПРОФЕССОРУ В. Г. БЕРЕЗКИНУ — 70 ЛЕТ

Редакция журнала "Научное приборостроение" сердечно поздравляет юбиляра и желает ему новых творческих достижений, здоровья и благополучия. В материал, посвященный замечательному юбилею, включены ответы Виктора Григорьевича на вопросы, заданные редакцией.

Полный текст >>

 
Материал поступил в редакцию 16.01.2001.

Стр. 94—95

 

ул. Ивана Черных, 31-33, лит. А., Санкт-Петербург, 198095, а/я 140
тел.: (812) 3630719, факс: (812) 3630720, mail: iap@ianin.spb.su

контент: Беленков В.Д. дизайн: Куспанова Б.С.