Сканирующая зондовая лаборатория NTEGRA Solaris (NT-MDT, Россия)

Спектрофотометр HITACHI U3410 (Japan), спектральный диапазон измерений от 190 до 2500 нм.

Спектрофлуориметр HITACHI F4010 (Japan), спектральный диапазон возбуждения от 220 до 750 нм, спектральный диапазон измерения эмиссии от 220 до 800 нм.

Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп Leica TCS SL (микроскоп Leica DM-R), длины волн возбуждения  458, 476, 488, 514, 633 nm, спектральный диапазон детектирования  400-850 nm.

Прототипы микрофлюидной аналитической системы (МФАС, ИАП РАН).

Оптические микроскопы «Биолам П-2», МБС-9 (ЛОМО) и др.

ТермопрессММ-100 (MTDIInc., Корея).

Установка плазменной обработки материалов Diener Zepto (Germany).

Термоциклер с плоской нагревательной поверхностью SWT-MXP ESCO (USA)

Прецизионные электронные весы Sartorius BP 210S (до 210 г., погрешность измерения ±0.0001 г).

Лазеры: He-Ne (20 mW, USA), твердотельный LCS-DTL-364 (50 mW, Laser-Export Co. Ltd., Россия) и др.

Персональные компьютеры.

Центрифуги, термостаты, термопечи, ламинарный бокс, вакуумные насосы, ультразвуковые ванны, вытяжные шкафы и прочее оборудование.