Быков Иван Вадимович

Работа выполнена на кафедре микроэлектроники Государственного образовательного учреждения высшего профессионального образования "Московский физико-технический институт (государственный университет)" и в ЗАО "Нанотехнология МДТ".

Тема диссертации:

"Развитие и автоматизация методов измерения рельефа и локальных свойств биологических объектов в атомно-силовой микроскопии".

Диссертация представлена на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук по специальности 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики", физико-математические науки, шифр совета: Д002.034.01. С диссертацией можно ознакомиться в библиотеке Института аналитического приборостроения РАН.
Защита состоится в Институте аналитического приборостроения Российской Академии наук, 190103, С.-Петербург, Рижский пр., д.26, Тел.: (812) 251 - 73 - 10, Email: iap@ianin.spb.su.

Предполагаемая дата защиты – 23 апреля 2010 года в 15-00.
Автореферат