06 июля 2015г.

 

Александр Витальевич Анкудинов (ФТИ им. А.Ф. Иоффе РАН) подал в диссертационный совет Д002.034.01 диссертацию «Диагностика наноустройств методами Сканирующей Зондовой Микроскопии» на соискание ученой степени доктора физико-математических наук с просьбой о ее предварительном рассмотрении и последующей защиты.

Текст диссертации представлен здесь.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ИАП РАН, Рижский пр., 26., Санкт-Петербург, 190103
тел.: (812) 3630719, факс: (812) 3630720, mail: iap@ianin.spb.su