Рассматриваются способы практического применения активных магнитных подшипников (АМП) в различных отраслях промышленности. Обосновывается целесообразность использования АМП вместо традиционных подшипниковых узлов в таких отраслях, как авиация, энергетика, высокоскоростное машиностроение, медицинская техника, станкостроение, газотранспортный сектор. Приводится сравнение технических характеристик трех видов подшипниковых узлов — АМП, подшипники качения, подшипники скольжения

Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет (СПбГЭТУ)
Контакты: Поляхов Николай Дмитриевич, ndpol@mail.ru

В продолжение работы [1] в данной статье представлен обзор нетермических механизмов, ограничивающих выходную мощность излучения лазерных диодов. Эти механизмы разделены на две группы: на связанные с накоплением носителей в волноводных слоях лазерной структуры при токах, превышающих пороговое значение, и на связанные с неравновесностью электронов и дырок в активной области лазера, вызванной значительным уменьшением времен жизни носителей за счет стимулированного излучения. Рассмотрена конкуренция термических и нетермических механизмов ограничения мощности при импульсной и непрерывной накачках.

ЗАО «Полупроводниковые приборы», г. Санкт-Петербург (Демидов Д.М., Тер-Мартиросян А.Л.)
ООО «Софт-Импакт», г. Санкт-Петербург (Булашевич К.А., Хохлев О.В., Карпов С.Ю.)
Контакты: Тер-Мартиросян Александр Леонович, ter@atcsd.ru

С целью эффективного выявления малых нелинейностей в микроконтактной и туннельной спектроскопиях, разработан и изготовлен недорогой серийный анализатор параметров проводящих, сверхпроводящих и полупроводниковых структур.

Институт физики НАН Украины, Киев
Контакты: Жарков Иван Павлович, zharkov@iop.kiev.ua

В работе проведен анализ влияния наборов углов падения светового пучка прибора на характер решения математически некорректной обратной задачи эллипсометрии. Показано, что существование только одного набора углов падения, на котором реализуется правильный предельный переход к идеальной ситуации, и заметный разброс оптимальных значений и параметров пленки по угловым комплексам некоторого множества этих комплексов не является ограничивающим возможности метода фактором. Более того, подобные общие свойства угловых комплексов приводят к дополнительным возможностям метода решения математически некорректной обратной задачи. Рассмотрена также роль угла Брюстера в формировании используемых для решения обратной задачи комплексов углов падения.

Украина, г. Сумы (Семененко А.И.)
Первый Московский государственный медицинский университет им. И.М. Сеченова (Семененко И.А.)
Контакты: Семененко Альберт Иванович, sem199@mail.ru

К наиболее распространенным материалам, применяемым для изготовления микрофлюидных чипов, относятся стекла марки К8, полиметилметакрилат и поликарбонат. Приведены результаты исследования свойств смачивания необработанных и обработанных поверхностей этих материалов методом лежащей капли. Обсуждается влияние плазменной обработки в аргоновой среде и химической обработки (растворами щелочей, гипохлорита натрия и метакрилоксипропил-(триметокси)-силана) на смачиваемость поверхности. Рассмотрены результаты измерения рельефа поверхностей материалов методами атомно-силовой микроскопии до и после обработки.

Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных
технологий, механики и оптики (Посмитная Я.С., Кухтевич И.В., Евстрапов А.А.)
Институт аналитического приборостроения РАН, г. Санкт-Петербург
(Посмитная Я.С., Кухтевич И.В., Евстрапов А.А., Тупик А.Н.)
Контакты: Посмитная Яна Станиславовна, posmitnaya@rambler.ru

На поверхности кварцевого стекла нанесен слой олигомерного диизоцианата, что позволило осуществить последующую прививку полимерного покрытия на основе смеси полистирола и полистиролсульфокислоты. Синтезированные покрытия являются сплошными, однородными и характеризуются хорошей адгезией к подложке. Полученные результаты позволили определить оптимальные условия формирования на кварцевом стекле неподвижной фазы с физико-химическими и геометрическими характеристиками, необходимыми для изготовления сегментированных капиллярных колонок для электромиграционных методов разделения, концентрирования и анализа различных многокомпонентных систем.

Институт аналитического приборостроения РАН, г. Санкт-Петербург
Контакты: Шмыков Алексей Юрьевич, shmykov.alexey@gmail.com

Работа посвящена синтезу регулярных мультимолекулярных структур на основе стеаратов железа и определению их сорбционной емкости по отношению к пептиду SSNGHVYрGKLSSI методом высокоэффективной жидкостной хроматографии. Было показано, что полученные структуры обладают высокой сорбционной емкостью и могут быть использованы как сорбенты для металл-аффинной хроматографии применительно к биологическим объектам.

Институт аналитического приборостроения РАН, г. Санкт-Петербург
(Кельциева О.А., Гладилович В.Д., Краснов Н.В., Подольская Е.П.)
Институт токсикологии ФМБА России (Гладилович В.Д., Бонитенко Е.Ю., Подольская Е.П.)
Государственный научно-исследовательский институт особо чистых
биопрепаратов ФМБА России (Прусаков А.Н.)
Санкт-Петербургский государственный университет
(Колоницкий П.Д., Суходолов Н.Г., Селютин А.А.)
Контакты: Кельциева Ольга Александровна, keltcieva@gmail.com:

Для фиксации биологических объектов в жидкости использованы гелеобразующие вещества (желатин и агар-агар). Выполнены исследования по подбору наиболее подходящей массовой доли желатина и агар-агара в исходном растворе для фиксации бактерий E.Coli в жидкости и проведено изучение результатов фиксации методом конфокальной лазерной сканирующей микроскопии. Методом атомно-силовой микроскопии получены изображения бактерий E.Coli в нативном состоянии, зафиксированных на пленках агар-агара в жидкости.

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург
(Кухтевич И.В., Букатин А.С., Евстрапов А.А.)
Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных
технологий, механики и оптики (Кухтевич И.В., Жуков М.В., Букатин А.С., Евстрапов А.А.)
Институт цитологии РАН, Санкт-Петербург (Чубинский-Надеждин В.И.)
Санкт-Петербургский академический университет — научно-образовательный центр нанотехнологий РАН (Букатин А.С., Евстрапов А.А.)
Контакты: Кухтевич Игорь Владимирович, ba@inbox.ru

Рассматривается проблема автоматического распознавания структур изображений образцов феррито-перлитных сталей, полученных методом атомно-силовой микроскопии. Для ее решения предложен алгоритм, который включает предварительную обработку, сегментацию изображения, вычисление параметров изображения и определение по полученным параметрам наиболее вероятного состояния исследуемого образца при помощи метода опорных векторов. Рассматривается возможность повышения точности классификации путем определения оптимального набора параметров изображений. Описанный в статье алгоритм реализован в виде программного модуля. Приведены примеры обработки экспериментальных данных.

Институт аналитического приборостроения РАН, г. Санкт-Петербург
(Горбенко О.М., Фельштын М.Л., Голубок А.О.)
Санкт-Петербургский государственный университет
(Усачев Д.Ю., Ульянов П.Г., Сеньковский Б.В., Адамчук В.К.)
Контакты: Горбенко Ольга Марковна, gorolga64@gmail.com

Рассмотрены методические особенности и предложен способ моделирования двухкомпонентного ПЦР-анализа. Выполнено сравнение трех способов определения порогового цикла при двухкомпонентных ПЦР-анализах. Определены зависимости погрешностей измерения от разности пороговых циклов измерительного и соседнего каналов. Показано преимущество аппроксимации двухкомпонентного сигнала предложенной нами ранее усовершенствованной моделью на основе сигмоидальной функции с 6 параметрами.

Институт аналитического приборостроения РАН, г. Санкт-Петербург
Контакты: Белов Юрий Васильевич, bel3838@mail.ru

Продемонстрирована принципиальная возможность реализации полимеразной цепной реакции в реальном времени (ПЦР-РВ) на микрофлюидном устройстве. Актуальной задачей является экспрессная оценка качества проводимой ПЦР. В работе показана возможность решения этой задачи при электрофоретическом анализе продуктов ПЦР на микрофлюидном чипе. В качестве объекта исследования выбран онкомаркер цитокератин-19 (СК-19). Предложены способы обработки электрофоретического информативного сигнала и сделаны выводы, касающиеся качества ПЦР и особенностей проведения электрофореза на микрофлюидном чипе. Обсуждаются перспективные задачи, решение которых может основываться на результатах проведенных исследований.

Институт аналитического приборостроения РАН, г. Санкт-Петербург
Контакты: Евстрапов Анатолий Александрович, an_evs@mail.ru

Разработан макет генетического анализатора, в котором используется метод разделения молекул нуклеиновых кислот в жидкой полимерной фазе одновременно в 8 капиллярах под воздействием высокого напряжения с пятицветной лазер-индуцированной флуоресцентной детекцией. Разработаны наборы реактивов для спектральной калибровки анализатора и для фрагментного анализа ДНК.

ЗАО «СИНТОЛ», Москва (Алексеев Я.И., Малюченко О.П., Монахова Ю.А., Натыров А.Н.)
Институт аналитического приборостроения РАН, г. Санкт-Петербург
(Белов Ю.В., Коновалов С.В., Курочкин В.Е., Петров А.И.)
Всероссийский научно-исследовательский институт сельскохозяйственной биотехнологии Россельхозакадемии, Москва (Алексеев Я.И., Малюченко О.П., Натыров А.Н.)
OОО «Гордиз», Москва (Орехов В.А.)
Контакты: Белов Юрий Васильевич, bel3838@mail.ru

В работе представлены результаты исследования системы сопряжения ЖХ—ИДС (жидкостного хроматографа с ион-дрейфовым спектрометром) с ортогональным электростатическим отклонением ионов, полученных методом электроспрей, при высоких скоростях распыления анализируемой жидкости (200–300 мкл/мин). Система обеспечивает стабильную работу аналитического комплекса ЖХ—ИДС без разделения потока жидкости из колонки жидкостного хроматографа.

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург
Контакты: Курнин Игорь Васильевич, igor.kurnin@gmail.com

Приведен метод расчета выталкивающего импульса, компенсирующего разброс времени возникновения ионов во времяпролетном масс-спектрометре. Рассмотрено применение метода к конструкции масс-спектрометра с двумя отражателями. Приведено моделирование разрешения прибора в осевом приближении для различных комбинаций ускоряющего и отражающего напряжений, выбора базовой массы, факторов, ухудшающих разрешение масс-спектрометра. Для каждой из комбинаций приведены результаты моделирования зависимостей, сделаны оценки влияния тех или иных факторов на разрешение прибора. На основе полученных результатов сделан вывод об оптимальном выборе исходных параметров расчета.

Самарский государственный аэрокосмический университет им. акад. С.П. Королева
(национальный исследовательский университет), г. Самара
Контакты: Родин Дмитрий Владимирович, rodin.ssau@gmail.com

Предложены конструкция измерительной ячейки и метод для определения содержания растворенного кислорода в кулонометрическом режиме.

Санкт-Петербургский государственный университет
Контакты: Гурская Александра Владимировна, Alexandra.gurskaya@gmail.com

Результаты информационной оптимизации лазерного канала связи между элементами группы БПЛА осуществляющиx групповое дистанционное зондирование, показали, что в оптимальном режиме увеличение длины волны оптического сигнала неизбежно приводит к уменьшению достижимого расстояния между БПЛА. Результаты исследования зависимости требуемой площади полезного груза, предназначенной для размещения аппаратуры дистанционного зондирования, показали, что с увеличением длины волны указанная площадь неизбежно увеличивается.

Национальное аэрокосмическое агентство, г. Баку, Азербайджан
Контакты: Гулиев Фалах Фахраддин оглы, falakh2005@rambler.ru

В КВЦ «Сокольники» (Москва) 7–9 ноября 2012 г. прошла Международная специализированная выставка «SIMEXPO — Научное приборостроение-2012» — единственная в России выставка, которая уже 6-й год собирает на единой площадке участников — отечественных и зарубежных производителей научных приборов в различных отраслях науки, специалистов академического, вузовского, отраслевого секторов науки, дилеров и дистрибьюторов, представителей малого и инновационного бизнеса в научно-технической сфере, представителей профессиональных ассоциаций.

НИИ Интроскопии, Москва Контакты: Матвеев Владимир Иванович, matveev@spektr6.ru

Обзоры.
Поверхность.
ПЦР-, ДНК-анализ.
Элементный анализ.
Разное.