Современные подходы к разработке изотопных масс-спектрометров для анализа элементов легких масс (обзор)

Л. Н. Галль, А. Г. Кузьмин, В. Н. Кудрявцев, А. А. Семенов, Н. Р. Галль

5

Метод оценки энергетических и пространственных параметров рентгеновских и гамма-детекторов

А. Ю. Портной

13

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных \"нулевой\" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 16. Метрология \"нулевой\" эллипсометрии. О способах определения полного набора комплексных параметров фазового компенсатора

А. И. Семененко, И. А. Семененко

24

Методика поточечных измерений рельефа, сил взаимодействия и локальных свойств: новый подход для комплексного анализа в атомно-силовой микроскопии

И. В. Быков

38

Об алгоритме сканирования в сканирующих зондовых микроскопах с оптическими энкодерами линейных перемещений

А. О. Голубок, О. М. Горбенко, В. В. Котов, И. Д. Сапожников, М. Л. Фельштын

44

Исследование поверхностных свойств покрытий смеси полистирола и полистиролсульфокислоты на плавленом кварцевом стекле

А. Н. Красовский, А. Ю. Шмыков, В. Н. Филиппов, И. В. Васильева, С. В. Мякин, Н. А. Осмоловская, С. В. Борисова, В. Е. Курочкин

51

Проект ячейки столкновительной фрагментации для тандемного масс-спектрометра с параллельным анализом

И. В. Курнин, М. И. Явор, А. Н. Веренчиков, А. В. Замятин

59

Использование бегущей волны электрического поля в ячейке столкновительной фрагментации для тандемных масс-спектрометров

И. В. Курнин, М. И. Явор, А. Н. Веренчиков

65

Модуляция скорости ионного пучка в интерфейсе времяпролетного масс-спектрометра с ортогональным ускорителем

А. Н. Веренчиков, М. З. Мурадымов, М. А. Гаврик, М. И. Явор, И. В. Курнин, Д. Н. Алексеев

71

О возможности возбуждения продольной стоячей волны в цилиндрическом ограниченном капилляре, заполненном жидкостью

Б. П. Шарфарец

76

Методы и алгоритмы разделения смеси сигналов. II. Применение м-градиента к анализу независимых компонент

В. М. Малыхин, А. В. Меркушева

83

Обнаружение локальных объектов на цифровых микроскопических изображениях

Б. В. Бардин, И. В. Чубинский-Надеждин

96

Возможности алгоритма сверток с производными для оценки параметров масс-спектров, содержащих наложившиеся пики

В. В. Манойлов, И. В. Заруцкий

103

Алгоритмы оценки наличия двух и более пиков в выборке данных фрагмента масс-спектра для программного обеспечения обработки масс-спектров в условиях недостаточного разрешения

В. В. Манойлов, И. В. Заруцкий

109

Профессор Л. Н. Галль — юбиляр

115