logo
blue band back
  НОМЕРА ЖУРНАЛОВ "НП"

СОДЕРЖАНИЕ, РЕФЕРАТЫ 2007г. Том 17 №1

ИССЛЕДОВАНИЯ, ПРИБОРЫ, МОДЕЛИ И МЕТОДЫ АНАЛИЗА

Ультразвуковое проточное фракционирование частиц различной природы.

1. Предельные параметры фракционирования неорганических частиц

 

Н. Н. Князьков, Е. Д. Макарова, С. А. Морев


3

О подборе параметров многослойной резонансной ультразвуковой камеры

 

В. Е. Курочкин, Е. Д. Макарова, Б. П. Шарфарец


15

Особенности сочетания твердотельного нанозонда с энергоанализирующими системами высокого разрешения

 

В. Д. Белов, А. О. Голубок


27

Совмещение ионных источников, работающих при высоком давлении газа,
с масс-спектрометрами

 

З. З. Латыпов, Ю. К. Голиков, Л. Н. Галль


36

Разрешающая способность ион-дрейфового спектрометра двойного последовательного разделения ионов с ионизацией коронным разрядом

 

Н. В. Краснов, Я. И. Паульс, А. В. Самокиш, В. А. Самокиш, Ю. И. Хасин


40

Высокоточные измерения на квадрупольном масс-спектрометре

 

А. Ф. Кузьмин, Э. А. Шевачёва, Д. Ф. Клещевников


49

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур.

7. Определение оптических постоянных объемных материалов. Метод последовательного неразрушающего восстановления оптического профиля поверхности

 

А. И. Семененко, И. А. Семененко


53

К вопросу о вычислении амплитуды рассеяния объемных и поверхностных рассеивателей

 

Б. П. Шарфарец


62

О решении двумерного уравнения Пуассона, когда облако объемного заряда имеет гладкие криволинейные границы.

II . Аксиальная геометрия

 

С. И. Шевченко


73

Об особенностях нахождения аксиальных электростатических полей вблизи оси.
I . Метод прямого интегрирования

 

С. И. Шевченко


83

Исследование режима функционирования микромеханического гироскопа
с совмещенными частотами по осям первичных и вторичных колебаний

 

А. С. Ковалёв, Д. Г. Грязин, Ю. В. Шадрин, Д. И. Лычёв


91

ОБРАБОТКА И АНАЛИЗ СИГНАЛОВ

Оценка амплитуд "наложившихся" масс-спектрометрических пиков при известных положениях на оси масс и известных полуширинах алгебраическим методом

 

В. В. Манойлов, И. В. Заруцкий


98

Спектральные преобразования в приспособленном базисе для разделения "наложившихся" пиков и фильтрации масс-спектрометрических сигналов

 

А. Абденби, А. И. Солодовников, В. В. Манойлов, И. В. Заруцкий


103

Предварительная очистка масс-спектрометрических сигналов от шумов с помощью вейвлет-фильтров

 

И. В. Заруцкий, В. В. Манойлов


115

 

ИАП РАН, Рижский пр., 26., Санкт-Петербург, 190103
тел.: (812) 3630719, факс: (812) 3630720, mail: iap@ianin.spb.su

контент: Иванова Н.В. дизайн: Куспанова Б.С.