О роли термического испарения во вторично-ионной масс-спектрометрии

Ю. П. Костиков, В. С. Стрыканов, Н. Л. Чернюс

3

Стимулирование вторично-ионной эмиссии молекулярными потоками

В. Ф. Попов

8

Особенности анализа содержания атмосферных газов на поверхности материалов методом ВИМС

А. А. Дорожкин, А. П. Коварский, А. В. Ли-Фату

13

Диагностика имплантированных слоев кремния методом вторично-ионной масс-спектрометрии с использованием комплексных ионов

Г. М. Гурьянов, А. П. Коварский

17

Водород в ванадии, ниобии, тантале

А. П. Коварский, А. В. Ли-Фату, А. А. Дорожкин

26

Анализ низкоразмерных полупроводниковых гетероструктур методом ВИМС-профилирования

Б. Я. Бер, А. В. Меркулов

31

Ионная диагностика поверхностей эффективных термоэмиттеров в мощных ЭВП

О. И. Лукша, О. Ю. Цыбин

35

Мессбауэровская спектрометрия в скользящей геометрии — метод исследования ультратонких слоев поверхности. II. Теория мессбауэровских спектров при скользящих углах падения

С. М. Иркаев, М. А. Андреева, В. Г. Семенов, Г. Н. Белозерский, О. В. Гришин

43

Использование каналирования электронов для анализа распределений структурных нарушений в приповерхностных слоях монокристаллов

А. В. Котов

62

Динамика роста бинарных полупроводниковых соединений А₃В₅ в методе молекулярно-пучковой эпитаксии: Компьютерное моделирование

А. Г. Филаретов, А. А. Майоров, Г. Э. Цырлин

68

Модельные временные зависимости средней высоты и шероховатости поверхности тонкой пленки

В. Г. Дубровский

74

Физические и математические модели кластерообразования

Г. В. Дубровский, В. Г. Дубровский, Ю. Е. Горбачев

85

Скрещенная линза как тестовая модель для расчета трехмерных полей

Л. А. Баранова, А. С. Бердников, Р. А. Бубляев, О. А. Гринева,
В. Я. Иванов, С. Я. Явор

105

Реклама приборов