Эллипсометрическое исследование закономерностей отражения на кристаллографических срезах кристаллов LiNbO3
И. А. Водоватов, Е. К. Скалецкий, В. А. Марков, Ю. С. Музалевский
3
Анализ возможности электронно-лучевого синтеза пространственно-частотных фильтров на реверсивных окиснованадиевых структурах (РОВС)
И. В. Соколова, И. А. Хахаев, Ф. А. Чудновский, Е. Б. Шадрин
9
Решение обратной задачи эллипсометрии по нахождению двух неизвестных параметров диэлектрической пленки на известной подложке с использованием модифицированного метода Холмса
О. А. Шептунов
15
Физические закономерности функционирования генератора заряженных монодисперсных капель
А. А. Земсков, А. И. Григорьев
24
Диод Пирса с частичной нейтрализацией заряда
А. Л. Санин
30
Исследование положительного столба слаботочного разряда в гелии
А. П. Головицкий, В. В. Елагин, А. Я. Лукин, А. Э. Фотиади
37
Эхо в порошке высокотемпературного сверхпроводника Вi3.8Рb0.2Sr4Са5Сu7Оу
Е. Г. Апушкинский, М. С. Астров, В. В. Долбиев, Н. И. Марущак
54
Энергоанализатор вторичных электронов для растрового электронного микроскопа
В. Д. Белов, А. В. Хрущев
65
Мессбауэровская спектрометрия в скользящей геометрии – метод исследования ультратонких слоев поверхности
С. М. Иркаев, М. А. Андреева, В. Г. Семенов, Г. Н. Белозерский, О. В. Гришин
70
Метод и аппаратно-программное обеспечение контроля эффективности биоцидов
В. Е. Курочкин, Г. А. Парамонов, А. О. Петряков, Л. К. Панина
85
Выделение хрома из сельскохозяйственных объектов
Полуянов В. П.
95
От редакции
ул. Ивана Черных, 31-33, лит. А., Санкт-Петербург, 198095, а/я 140 тел.: (812) 3630719, факс: (812) 3630720, mail: iap@ianin.spb.su
контент: Беленков В.Д. дизайн: Куспанова Б.С.